• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها
  • درباره پایگاه
  • ارتباط با ما
  • تاریخچه
  • ورود / ثبت نام
تعداد ۱۴ پاسخ غیر تکراری از ۱۴ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۵۵ ثانیه یافت شد.

1. <AN> Introduction to surface analysis by XPS and AES

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / John F. Watts John wolstenholme

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: Surfaces(technology)-Analysis,Electron spectroscopy

رده :
TP156
.
S95
,
W373
2003

2. <An> Introduction to surface analysis by XPS and AES

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: John F. Watts, John Wolstenholme

کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه علوم و فناوری رنگ (تهران)

موضوع: Surfaces (Technology)- Analysis,Electron spectroscopy

رده :

3. An introduction to surface analysis by XPS and AES

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / John F. Watts, John Wolstenholme

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)

موضوع: Surfaces (Technology)- Analysis,Electron spectroscopy

رده :
TP156
.
S95
,
W373
2003

4. An introduction to surface analysis by XPS and AES

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / John F. Watts, John Wolstenholme

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع: Surfaces (Technology), Analysis,Electron spectroscopy

رده :
TP156
.
S95W373
2003

5. An introduction to surface analysis by XPS and AES

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / John F. Watts, John Wolstenholme

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه علوم پزشكی اصفهان (اصفهان)

موضوع: Surfaces (Technology) Analysis,Electron spectroscopy

رده :
TP156
.
S95
,
W3
2003

6. An introduction to surface analysis by XPS and AES

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / John F. Watts, John Wolstenholme

کتابخانه: كتابخانه پردیس علوم (دانشگاه تهران) (تهران)

موضوع: Surfaces (Technology) -- Analysis,Electron spectroscopy

رده :
TP
156
.
S95
W373
2003

7. An introduction to surface analysis by XPS and AES

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / John F. Watts, John Wolstenholme

کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Surfaces (technology) - Analysis,Electron spectroscopy

رده :
TP
156
.
S95W373
2003

8. An introduction to surface analysis by XPS and AES

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / John F. Watts, John Wolstenholme

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: Surfaces (Technology)--Analysis,Electron spectroscopy.

رده :
TP
,
156
,.
S95
,
W373
,
2003

9. An introduction to surface analysis by XPS and AES

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / John F. Watts, John Wolstenholme

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)

موضوع: Surfaces (Technology)- Analysis,Electron spectroscopy

رده :
TP156
.
S95
,
W373
2003

10. An introduction to surface analysis by XPS and AES

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / John F. Watts, John Wolstenholme

کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Surfaces (technology) - Analysis,Electron spectroscopy

رده :
TP
156
.
S95W373
2003

11. An introduction to surface analysis by XPS and AES. ]CD[

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: Watts, John F.,John F. Watts, John Wolstenholme

کتابخانه: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)

موضوع: Analysis ، Surfaces )Technology(,، Electron spectroscopy

رده :
TP156
.
S95
W373
2003

12. Auger electron spectroscopy :

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: John Wolstenholme

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Auger electron spectroscopy

رده :

13. Auger electron spectroscopy : practical application to materials analysis and characterization of surfaces, interfaces, and thin films

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: / Wolstenholme, John

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع: ENGINEERING (uncategorised)|MATERIALS SCIENCE (uncategorised)

رده :
E-BOOK

14. The royal college of physicians of London, Portraits V2

  • اطلاعات استناد دهی
  • BibTex (مخصوص کاربران)
  • RIS (مخصوص کاربران)
  • Endnote (مخصوص کاربران)
  • Refer (مخصوص کاربران)
  • Mark (مخصوص کاربران)

پدیدآورنده: Gordon Wolstenholme, John F. Kerslake

کتابخانه: كتابخانه تخصصی تاریخ اسلام و ایران (قم)

موضوع: لاتین

رده :
  • »
  • 1
  • «

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال